一、常州可編程冷凍試驗(yàn)箱，實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)

1、試驗(yàn)箱在試驗(yàn)過(guò)程中除非有必要，請(qǐng)不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致下列不良的后果

2.箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫

3.高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)報(bào)警，產(chǎn)生誤動(dòng)作。

4.高溫氣流沖出箱外(十分危險(xiǎn))。

5、在做低溫前，應(yīng)將工作室擦干，60℃時(shí)烘干1h。

6、禁止試驗(yàn)爆炸性，可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。

7、如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試品時(shí)，試品電源控制請(qǐng)使用外加電源，不要直接使用本機(jī)電源。放入高溫試料作低溫試驗(yàn)時(shí)應(yīng)注意:開啟箱門的時(shí)間要盡可能的短。

8、電路斷路器、超溫保護(hù)器，提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù)，故請(qǐng)定期檢查。

9、避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組。

10、照明燈除必要時(shí)打開外，其余時(shí)間應(yīng)關(guān)閉。

二、常州可編程冷凍試驗(yàn)箱產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)。還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

三、常州可編程冷凍試驗(yàn)箱設(shè)備的主要技術(shù)參數(shù)