試驗(yàn)箱
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傳統(tǒng)單級制冷循環(huán)在 -40℃以下低溫環(huán)境模擬時(shí)效率顯著下降,難以滿足測試需求。雙級制冷循環(huán)由高溫級與低溫級壓縮機(jī)串聯(lián)構(gòu)成,通過中間換熱器實(shí)現(xiàn)能量傳遞。高溫級壓縮機(jī)先將制冷劑壓縮至中溫中壓狀態(tài),低溫級壓縮機(jī)在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步壓縮至低溫高壓,經(jīng)膨脹閥降壓后,可實(shí)現(xiàn) -70℃甚至更低的極限溫度。在電動汽車電池低溫性能測試中,某型號試驗(yàn)箱借助雙級制冷循環(huán),在 -50℃環(huán)境下仍保持 ±0.5℃的控溫精度,確保電池在低溫下的充放電性能測試數(shù)據(jù)可靠。
傳統(tǒng) PID 算法在面對復(fù)雜工況時(shí),參數(shù)需人工反復(fù)調(diào)試,難以適應(yīng)快速變溫需求。AI 自適應(yīng) PID 技術(shù)引入機(jī)器學(xué)習(xí)算法,通過實(shí)時(shí)采集箱內(nèi)溫度、升溫速率、環(huán)境干擾等多維數(shù)據(jù),構(gòu)建動態(tài)模型并自主優(yōu)化比例、積分、微分參數(shù)。在芯片熱循環(huán)測試中,試驗(yàn)箱需在 1 分鐘內(nèi)完成 -40℃至 125℃的快速切換,AI 自適應(yīng) PID 系統(tǒng)可根據(jù)歷史數(shù)據(jù)預(yù)測溫度變化趨勢,提前調(diào)整制冷 / 加熱功率,將過沖幅度從傳統(tǒng) PID 的 ±2℃降低至 ±0.3℃,大幅提升測試效率與精度。
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